光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點 1.非接觸式測量
采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進(jìn)行測量,屬于非接觸式測量方法,不會對樣品造成任何損傷,能夠保證樣品的完整性。
2.測量數(shù)據(jù)多樣
可以測得物體的膜厚度和n,k數(shù)據(jù),這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。
3.測量快速
測量過程非??焖伲驗樵撛O(shè)備采用了*結(jié)構(gòu)設(shè)計,能夠極大程度的提升測量效率,相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。
4.適用范圍廣
適用范圍非常廣泛,從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn),再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所,都可以看到它的身影,由此可見它的使用范圍極其廣泛,能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。
光學(xué)膜厚儀的使用注意事項
1.零點校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn),因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量,零點校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響,能夠降低測量的結(jié)果的誤差,使測量結(jié)果更加精確。
2.基體厚度不宜過薄
在使用光學(xué)膜厚儀對物體進(jìn)行測量時基體不宜過薄,否則會極大程度的影響儀器的測量精度,造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確,影響測量過程的正常進(jìn)行。
3.物體表面粗糙程度
對于被測物體的表面不宜太過粗糙,因為粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了測量精度,造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑,以保證測量結(jié)果的精確性。
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