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簡要描述:這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)是一款易于使用的工具,用于快速測量材料的薄層電阻,電阻率和電導(dǎo)率。 通過使用我們自己的源測量單元,我們能夠創(chuàng)建一個(gè)低成本的系統(tǒng),使測量范圍更廣泛。 探頭采用彈簧加載接觸,而不是尖銳的針頭,防止損壞精密樣品,如厚度在納米左右的聚合物薄膜。
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特點(diǎn):
• 廣泛的測量范圍 - 四點(diǎn)探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流,并且可以測量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測量范圍,從10mΩ/□到10MΩ/□,可表征多種材料。
• 非破壞性測試 - 設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了精密樣品的測量,四點(diǎn)探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭, 60克的恒定接觸力,防止探針刺破脆弱的薄膜,同時(shí)仍能提供良好的電接觸。
• 節(jié)省空間的設(shè)計(jì) - 通過垂直堆疊組件,我們能夠?qū)⑺狞c(diǎn)探頭的占地面積降至zui低(總臺(tái)面面積12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏貨架空間的實(shí)驗(yàn)室中使用。
• 易于使用 - 只需插入系統(tǒng),安裝軟件,即可開始使用! 直觀的界面和清潔的設(shè)計(jì),簡化了薄膜電阻的測量。
• 快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻,電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測量和計(jì)算,從而使材料表征變得毫不費(fèi)力。
• 要忘記保存您的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) - 用于測量的設(shè)置會(huì)與數(shù)據(jù)一起保存,從而輕松查看實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)信息。 此外,這些設(shè)置文件可以通過相同的軟件加載,加快重復(fù)測量和材料表征。 用更少的時(shí)間重復(fù)測量,您的研究成果可以顯著增加。
技術(shù)參數(shù):
電壓范圍 | 100μV至10 V |
|
探針間距 | 1.27毫米 |
矩形樣本大小范圍 | 長邊zui小值:4毫米 短邊zui大值:60毫米 |
圓形樣品尺寸范圍(直徑) | 4毫米到76.2毫米 |
zui大樣品厚度 | 5毫米 |
總體尺寸 | 寬度:120毫米 高度:100毫米 深度:300毫米 |
支持的操作系統(tǒng) | Windows Vista,7,8和10(64位) |
zui小顯示器分辨率 | 1440 x 900 |
建議的監(jiān)視器分辨 | 1920 x 1080 |
所需的硬盤空間 | 400 MB |
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