SM230 自動光學薄膜厚度掃描測繪儀

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動光學薄膜厚度掃描測繪儀。

SM230自動光學薄膜厚度測繪儀由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉(zhuǎn)平臺。

1.產(chǎn)品特點：

·非接觸式、非破壞性的測試系統(tǒng)；

·超長壽命光源，更高的發(fā)光效率；

·高分辨率、高靈敏度光譜儀，測繪結(jié)果更準確可靠;

·軟件界面直觀，操作方便省時；

·測繪速度快，支持多點測繪點位地圖繪制;

·支持繪制樣品2D/3D厚度分布圖；

·高精度、長壽命的3軸旋轉(zhuǎn)平臺；

·歷史數(shù)據(jù)存儲，幫助用戶更好掌握結(jié)果;

·桌面式分布設(shè)計，適用場景豐富;

2.應(yīng)用領(lǐng)域：

·半導體鍍膜    ·光學鍍膜     ·液晶顯示    

·微電子系統(tǒng)    ·生物醫(yī)學

3. 選型與規(guī)格參數(shù)：

光學膜厚儀通過測量薄膜的光學性質(zhì)來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當光線穿過薄膜時，會發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。

光學膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學鍍膜、涂層、光學薄膜等。通過光學膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應(yīng)用于光學、電子、材料等領(lǐng)域。